Elektroniikan häiriömittaukset EMC-skannerilla
EMC-skanneri soveltuu häiriölähteiden etsimiseen, paikallistamiseen ja mittausten vertailuun. Se toimii elektroniikkatuotteiden suunnittelun apuna ennen varsinaista testauslaboratoriossa tehtävää virallista mittausta. Elektroniikkavalmistuksessa säästyy aikaa ja rahaa, kun häiriösäteilyn lähde voidaan paikallistaa riittävän aikaisessa suunnitteluvaiheessa.
Lisätietoja:
SeAMK Tutkimus- ja kehittämispalvelut
Tekniikka
Törnäväntie 26, 60200 Seinäjoki
Heikki Rajala
Puh.040 830 4165
Fax. 020 124 5301